بررسي انباشت سطحي در لايه هاي نانومتري Ni/Cu

اولين همايش دانشجويي فناوري نانو - دانشگاه تربيت مدرس

30 الي 2 بهمن 1385، تهران - ايران

نوع ارائه: سخنراني
چكيده:

غلظت عناصر در چند لايه سطح به دلايل مختلفي از جمله انباشت سطحي (surface segregation) مي تواند متفاوت از غلظت توده باشد كه اين امر با توجه به گسترش كاربرد لايه هاي نانومتري اهميت دارد. در اين پروژه، انباشت سطحي مس در حين لايه نشاني لايه نانومتري نيكل بر روي زير لايه مس و نيز انباشت سطحي بر اثر عمليات حرارتي مورد بررسي قرار گرفته است. به اين منظور لايه هاي نانومتري Ni/Cu پس از لايه نشاني در شرايط خلاء خيلي خوب (UHV) و خلاء خوب (HV) حين لايه نشاني و عمليات حرارتي مورد بررسي قرار گرفت. سپس با استفاده از روشهاي AES, XPS غلظت عناصر موجود بر روي سطح را مشخص نموده و همچنين با استفاده از بمباران يوني و تحليل اطلاعات با روشهايي از جمله روش توگارد، توزيع عناصر بر حسب عمق در نزديكي سطح تعيين گرديد. روشهاي AFM براي بررسي توپوگرافي لايه ها و اندازه گيري زاويه تماسي جهت تعيين انرژي سطحي نمونه ها مورد استفاده قرار گرفت.

كلمات كليدي: